歡迎光臨上海華茗商貿(mào)有限公司網(wǎng)站!
誠(chéng)信促進(jìn)發(fā)展,實(shí)力鑄就品牌
服務(wù)熱線:

13564243527

上海華茗商貿(mào)有限公司
產(chǎn)品分類(lèi)

Product category

技術(shù)文章 / article 您的位置:網(wǎng)站首頁(yè) > 技術(shù)文章 > 紅外熱成像儀探測(cè)器的定義

紅外熱成像儀探測(cè)器的定義

更新時(shí)間: 2012-05-25   點(diǎn)擊次數(shù): 3302次

紅外熱成像儀探測(cè)器的定義

紅外熱像探測(cè)器

探測(cè)器的zui小單元為像素,每一個(gè)像素都是一個(gè)獨(dú)立的測(cè)溫點(diǎn)。探測(cè)器的像素越多,意味著測(cè)溫點(diǎn)越多,成像效果越好。

主流的熱像儀的探測(cè)器像素有:60×6080×80、120×120、140×140、180×180、160×120240×180、320×240、640×480等。

探測(cè)器就是紅外熱像儀的傳感器,主要是為了探測(cè)到物體的紅外輻射并將其轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。

現(xiàn)今使用的探測(cè)器可分為非制冷焦平面陣列FPA和制冷型FPA兩大類(lèi)。非制冷FPA有多晶硅、氧化釩等材料;制冷型FPA主要有碲鎘汞(PbCdTe)、量子阱(QWIP)等材料。

非制冷FPA又分為兩類(lèi):光學(xué)讀出非制冷焦平面陣列和電學(xué)讀出非制冷焦平面陣列。

 

聯(lián)


滬公網(wǎng)安備 31011002002622號(hào)